Nanite AFM

Aveți nevoie de mai multe informații?

Vă rugăm să ne contactați

Formular de contact 

DESCRIERE

Este cel mai mic AFM pentru integrare personalizată și pentru măsurători automate în serie.

Sistemul poate analiza cele mai provocatoare probe  fie că sunt: mari, grele sau curbe.

Morfologia suprafețelor este o proprietate importantă pentru diverse suprafețe tehnologice cu dimesiunea de până la ordinul nanometrilor și a suprafațelor rugoase cu dimensiunea subnanometrică. Astfel de suprafețe se pot analiza cu sistemul AFM în condiții ambientale. NaniteAFM este leader de piată pentru soluțiile AFM integrate, având puține restricții la dimensiunea probelor.

Sistemul are un scaner sub forma de vârf, 2 camere de inspecție și un motor integrat de apropiere, toate ocupând o suprafață foarte mică. În acestă configurație sistemul poate opera independent și foarte ușor de integrat. Tot ce este necesar pentru integrare este un spațiu de 300 cm3 și o platforma stabilă pentru a monta AFM-ul.

Prin sistemul de integrare facil se economiseste timp.

NaniteAFM folosește în partea din spate o șina pentru o montare rapida și ușor reproductibilă. Folosirea cantileverelor cu porturi de aliniere face ca alinierea laserlui să nu mai fie necesară. Pentru integrare acest sistem garantează o compensare bine definită între vârful cantileverului și alte componente care fac parte din setup, ca de exemplu un indentor.  Această acuratețe permite schimbul dintre componente fără să fie necesară căutarea ariei corecte, reducând astfel timpul și manipularea în timpul experimentelor.

NaniteAFM  face analize canitative pe suprafețe de ordinul nanometrilor.

Sistemul este o unealtă optimă pentru  îmbunătățirea capacităților  de imagistică și analiză în controlul calității, oferind informații despre suprafața de ordinul nanometrilor. Are avantajul că funcționeaza foarte bine atât pentru probe opace cât și pentru probe transparente. AFM-ul a devine un instrument extrem de important în analiza suprafeței sticlei. Sunt aplicații pentru   rugozitate unei suprafeței de sticlă trebuie să fie sub nivel nanometric, un posibil  defect la acest  nivel poate afecta comportamentul obiectivului. În ciuda suprafeței fine, obiectivele din sticlă pot fi mari și grele și nu este de dorit a se tăia o probă dintr-un obiectiv pentru a se analiza. În final, suprafețele de sticla, nu sunt obligatoriu plan paralele, ca în cazul lentilelor. 

Capuri  de scanare NaniteAFM 110 µm 70 µm 25 µm
Domeniul maxim de scanare (XY)(1) 110µm 70 µm 25µm
Maximum pe axă  Z(1) 22µm 14 µm 5 µm
Eroarea de liniaritate XY < 0.6% < 1.2% < 0.7%
Nivelul de zgomot la măsurătorile pe axa Z (RMS,modul static) tip. 350 pm (max. 500 pm) tip. 350 pm (max. 500 pm) tip. 80 pm (max. 150 pm)
Nivelul de zgomot la măsurătorile pe axa Z (RMS, modul dinamic) tip. 90 pm (max. 150 pm) tip.90 pm (max. 150 pm) tip. 30 pm (max. 50 pm)
Montarea Capuri de scanare interschimbabile (86 × 45 × 61 mm) cu placă de montare cu blocare în 3 puncte, care se poate monta si pe Nanosurf sau platforme personalizate
Alinierea cantileverelor  Aliniere automata pentru cantilevere cu porturi de aliniere.
Domeniul apropierii automate 4.5 mm (1.5 mm sub planul focal al opticii interne)
Observarea probei

Sistem video cu camera suport USB dual (vizualizare simultană de sus si laterală):

Vedere de sus: 3.1 MPixel cameră color CMOS
4× maginificarea optică (+ zoom digital prin software)
Câmpul maxim de vizualizare  ≈ 1.75 mm × 1.25 mm
Rezoluția maximă  ≈ 2.1 μm
Apertura numerică  ≈ 0.115
Vedere laterală: 1.3 MPixel cameră monocromatică  CMOS
Iluminarea probei  LED-uri albe  (stralucire  0–100%); Iluminarea axială pentru vederea de sus
(1) Toleranța producatorului  ±10% pentru capul de scanare  110-μm  și  ±15 % ; 70 pentru capul de scanare  de  25-μm scan
(2) Domeniul maxim de scanare la un unghi de  45°
C3000 controller —specificațiile hardware    
Poziția controlerului și de scanare pe axele X/Y/Z 3× 24-bit DAC (200 kHz)
Poziția de măsurare pe axele X/Y/Z 3× 24-bit ADC (200 kHz)
Ieșirea Excitației& modulației   4× 16-bit DAC (20 MHz)
Semnalul analog de intrare în lațimea benzii 0–5 MHz
Intrarea semnalului capturat 2× 16-bit ADC (20 MHz)
2× 24-bit ADC (200 kHz)
Ieșirea semnal utilizator adițional 3× 24-bit DAC (200 kHz)
Intrarea semnal utilizator adițional 3× 24-bit ADC (200 kHz)
Ieșire semnal monitor adițional 2× 24-bit ADC (200 kHz)
Sincronizare digitală 2× iesiri digitale, 2× intrari digitale, 2× I2C Bus
Modulul FPGA  și integrarea procesorului ALTERA FPGA, 32-bit NIOS-CPU,
80 MHz, 256 MB RAM, multitasking OS
Interfața USB 2.0 viteza inalta catre si catre interfata capului de scanare
Ceas sistem Cuart intern (10 MHz) sau ceas extern
Putere 90–240 V AC, 70 W, 50/60Hz
Cantilever  
Lațime min. 28 μm
Lungime min. 225 μm sau corectat XY
Acoperire reflexivă Se recomanda pe intreg cantileverului
Măsurători în lichid Nu sunt posibile
Porturi de aliniere Necesare
Frecvența de rezonanța în modul dinamic 15 kHz to 350 kHz
Forma cantileverului Numai cantilever singular dreptunghiular
Grosimea cipului 300 μm

tempus. Donec vitae sapien ut libero venenatis faucibus. Nullam quis ante. Etiam sit amet orci eget eros faucibus tincidunt. Duis leo. Sed fringilla mauris sit amet nibh. Donec sodales sagittis magna. Sed consequat, leo eget bibendum sodale