XGT-9000

Aveți nevoie de mai multe informații?

Vă rugăm să ne contactați

Formular de contact

Descriere

Evoluția μXRF! Combinarea unei sensibilități îmbunătățite și a unei noi tehnologii imagistice a realizat o analiză de viteză mare a materialelor străine într-o singură unitate.

Research

Operație de analiză simplă, fără o pregătire necesară și analiză nedistructivă.
Punctele de măsurare pot fi accesate rapid prin observarea optică de înaltă precizie, chiar și în intervalul microscopic.
Completați cu o varietate de software de analiză a imaginilor.
Timpul scurt de analiză facilitează munca eficientă de măsurare.
Imaginile cu raze X cu zgomot foarte mic permit o observare și mai clară.

Model XGT-9000 XGT-9000SL
Informații de bază
Instrument Microscopul analitic cu fluorescență cu raze X
Tip probe Solids, Lichids, Particule
Elemente detectabile F - Am
Dimensiuni cameră 450(W) x 500(D) x 80(H) 1030(W) x 950(D) x 500(H)
Dimensiuni maxime de probă 300(W) x 250(D) x 80(H) 500(W) x 500(D) x 500(H)
Greutate maximă de probă 1 kg 10 kg
Observații optice Două camere de înaltă rezoluție cu obiectiv obiectiv
Design optic Radiografie verticală-coaxială și observație optică
Iluminarea / observarea eșantionului Lumini de sus, de jos, laterale / Câmpuri luminoase și întunecate
Tubul de raze x
Putere 50 W
Voltaj Up to 50 kV
Curent Up to 1 mA
Material țintă Rh
Optica raze x
Număr de porbe Până la 4
Filtre primare cu raze X pentru optimizarea spectrului 5 poziții
Detectori
Detector de fluorescență cu raze X Silicon Drift Detector (SDD)
Detector de transmisie NaI(Tl)
Analiza mapării
Aria mapării 100 mm x 100 mm 350 mm x 350 mm
Pasul 2 mm 4 mm
Mod de operare
Mediu de probă Vid complet / vid parțial /
Conditii ambientale
Vid parțial / condiție de mediu *
* Elementele detectabile pentru versiunea SL sunt de la Na la Am