micro-XRF
Sistemul XGT al HORIBA ofera analiza prin Fluorescenta de raze X cu dispersie de energie (EDXRF) cu capabilitati unice.
Tehnologia XGT patentata (X ray Guiding Tube) combina tehnologia traditionala a fluorescentei de raze X cu analiza prin micro-spoturi. Fascicule de raze X de mare intensitate cu diametre cuprinse intre 3 mm si 10 µm ofera capabilitati de analiza versatile.
Este posibila atat analiza cantitativa cat si calitativa, chiar si pentru particule individuale microscopice, in timp ce maparea confera imagini detaliate ale distributiei elementelor.
Sistemul micro-XRF XGT-7000 acopera atat analiza macro, pentru verificarea unei arii mari, cat si inspectarea unor arii micro specifice, simultan prin fluorescenta de raze X si imagini de transmisie.
XGT-7000 include un sistem de vid dual (complet sau partial) pentru a asigura atat detectia elementelor usoare cat si protejarea probelor fragile.
Analiza XRF este utilizata frecvent pentru scanarea rapida si non-destructiva a componentelor si materialelor pentru productie subscrise compliantelor RoHS si ELV. Sistemele XGT1000WR si XGT5000WR ofera o analiza de mare sensibilitate pentru cele cinci elemente restrictionate (plumb, cadmiu, mercur, brom, crom) cu limite de detectie sub 5 ppm.
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
