DESCRIERE

Sistem Interferometric Laser pentru Testare Suprafete Multiple

Interferometrul Laser pentru testarea suprafetelor multiple Verifire™ MST permite masuratori de precizie a formei suprafetelor si a frontului de unda transmis de componente optice si sisteme de lentile. Este singurul sistem disponibil comercial care poate masura suprafete multiple intr-o singura masuratoare.   

Alte capabilitati importante:  masurarea omogenitatii materialului optic si variatia totala a grosimii (TTV), precum si masurarea sticlei mai subtiri de 1mm. Sistemul este disponibil cu lungimile de unda: 1.064 µm, 1.053 µm si 1.55 µm aditional lugimii de unda standard 633 nm ceea ce califica sistemul penru materiale in NIR.

Tehnologii speciale

Interferometrul Verifire™ MST integreaza tehnologie inovatoare, inclusiv Interferometria Sfit de Faza in Transformata Fourier (FTPSI) (patent ZYGO), si tehnologia de shiftare in lungime de unda

Caracterizeaza suprafete multiple intr-o singura masuratoare

Capabil de mult mai mult decat masurarea multi-suprafetelor

Inlaturare artefacte

Artefactele sunt provocari care apar in timpul unei masuratori si au un efect negativ  asupra rezultatului. Cu tehologia patentata FTPSI artefactele sunt inlaturate in mod natural.

Tehnologie rezistenta la vibratie