DESCRIERE

Este un spectrometru cu o rezoluție înaltă, mai bună de 0.1nm, pe domeniile spectrale cu lungimea de undă UV, VIS și NIR (190-2300nm). Se folosește cu succes în aplicații ca: monitorizarea lungimii de undă a laserului, caracterizarea led-urilor și a altor surse de emisie elementală ca de exemplu: plasmă sau spectroscopie LIBS. De asemenea este posibilă difracția Bragg, măsurarea temperaturii, presiunii sau a poziției probei, folosind senzori optici.

Are un sistem care permite interschimbarea fantelor. Acestea sunt disponibile în dimensiunile: 14, 25, 50, 100, 200um

TEC și TEC-X2 (upgrade ulterior) – carcasa optică include un modul de detecție izolat și sigilat, cu radiator de răcire specializat, un  circuit de aer special proiectat pentru un plus de stabilitate și operare la temperatura ambiantă. Răcirea termoelectrică a detectorului îmbunătățește stabilitatea acestuia pentru măsurători de lungime, acolo unde zgomotul termic poate distorsiona sau anula semnalul. Spectrometrul se livrează cu detector răcit într-o singură treaptă, la o temperatură de -15⁰ iar  ulterior se poate face upgrade la detectorul cu răcire în 2 trepte TEC-X2, cu o temperatură de păna la -30⁰; acest detector ,TEX-X2, crește semnificativ raportul semnal/zgomot prin reducerea zgomotului cu peste 80%, la expuneri de lungă durată.